ФТП, 2006, том 40, выпуск 2

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Динамика перезарядки дефектов в крупноблочных пленках p-CdTe

Х.Х.Исмаилов, Ж.Жанабергенов, Ш.А.Мирсагатов, С.Ж.Каражанов

Физико-технический институт,
700084 Ташкент, Узбекистан

(Получена 25 апреля 2005 г. Принята к печати 18 мая 2005 г.)

Исследована вольт-фарадная характеристика МОП структуры на основе крупноблочной пленки p-CdTe. Немонотонная зависимость объясняется перезарядкой глубоких акцепторных уровней на границе полупроводник--окисел и изменением степени компенсации поверхностных состояний.

PACS: 71.20.Nr, 73.40.Qv

 PDF версия (120Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2006, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster